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XCR20 粗糙度轮廓仪/表面粗糙度和轮廓测量一体机
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XCR20 粗糙度轮廓仪/表面粗糙度和轮廓测量一体机
参考价:
880000.00
产品型号: XCR20
品牌: mahr/马尔
描述: 粗糙度轮廓仪/表面粗糙度和轮廓测量一体机
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产品特点.jpg

● 一次测量便可完成粗糙度和轮廓评估

据测量任务,可使用 GD 25 驱动装置进行表面粗糙度测量,或使用 PCV 驱动装置进行轮廓测量

节省空间型设计:两个驱动装置可使用相应的组装支架安装到 MarSurf ST 500 ST 750 测量立柱

只需在软件平台内进行切换并更换驱动装置和测头等机械组件便可快捷更换粗糙度和轮廓测量

两个测量系统通过组合支架固定到测量立柱

使用 MarSurf LD 130 / LD 260 测量系统对组件进行精密度轮廓和粗糙度评估需要长行程和很高的分辨率

可自动跨越沟槽功能;编程后,测针到达直壁沟槽前能自动抬升测针,跨越直壁沟槽后,自动下降到工件表面继续测量,不需手动协助

轮廓测量结果的比对,既能与样件测量结果比较,也能与理论轮廓比较(CAD导入图形)

测针爬升与下降角度大,上升角度为77o,下降角度为88o,能够测量多种大角度复杂形状的零件


技术参数.jpg


测量原理机械式指针接触测量,配有 MFW250
测量量程±25, ±250, ±500 um  
粗糙度轮廓分辨率
垂直方向50 微米量程为0.8纳米;500微米量程为8纳米
水平方向0.56 毫米为35 纳米;1.75毫米为100纳米;5.6毫米为350 纳米;17.5毫米为1微米
分辨率垂直方向60,000:1;水平方向:16,000:1    
垂直放大率200,000
水平放大率100,000
分辨率垂直方向60,000:1;水平方向:16,000:1    
垂直放大率200,000
水平放大率100,000  
精度高于ISO/DIN 标准1级精度(相对误差<5%)
轮廓类型D,P,W,R (轮廓测量可倒置)    
滤波器类型按照DIN 4777 规定的轮廓滤波器(数字式和相位修正式),RC 滤波器(数字式), 按 DIN4776 规定的专用滤波器。
截止波长0.08   /  0.25   /  0.8  /  2.5   /   8  mm
移动长度0.56   /  1.75   /  5.6  /  17.5  mm
测量长度0.4    /   1.25   / 4.0   /  12.5  mm
移动长度0.56 …17.5mm可调
可测8类参数基于DIN/ ISO (包括MOTIF), ASME, JIS标准的参数
粗糙度参数Ra,Rq, Rz(Ry根据JIS符合Rz), Rmax,Rpc,Rz-JIS,Rt,Rp(Rpm根据ASME符合Rp),Rv,R3z, RSm,Rs(Rs根据JIS符合S),Rsk,Rku,Rdq,Rlq,Rdc,RHSC,Rmr(tp) Ra,Rq, Rz(Rz-ISO),Ry(根据JIS符合Rz), Rmax,Rpc,Rz-JIS,Rt,Rp(Rpm根据ASME符合Rp),Rv,R3z, RSm,Rs(Rs根据JIS符合S合S),Rsk,Rku,Rdq,Rlq,Rdc,RHSC,Rmr(tp) ,RzJIS,Rt,Rsk, Rp3z,Rc,R3z,R3y
核心粗糙度参数Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo  
P轮廓参数

Pa,Pq,Pt,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Plq,Pdc,PHSC,

PPc,PMr,Pz,Pa,Pq,Pmr,lp,tpaf,tpaa,tpab

W波度轮廓参数Wa,Wq,Wt,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdg,Wdc,WMr,Wp, Wz,lw
Motif参数R,Ar,W,Aw,Rx,Wx,Wte,Nr,Ncrx,Nw,Cpm,CR,CF,CL
ISO5436的参数Pt(ISO5436),D
参数列Rz-L,Rp-L,R3z-L,Rdc-L,RMr-L,Pdc-L,PMr-L
“外貌波度轮廓”选配WDSmMin,WDSmMax,WDSm,WDc,WDt
可测特征曲线如:轮廓曲线, 材料支承曲线(埃伯特曲线), 幅值密度曲线, 未滤波轮廓P和波纹度轮廓W的显示或打印
轮廓度技术参数
扫瞄长度 (X方向)0.2 mm 至 200 mm  
测量范围 (Z方向)50 mm, 适用于350 mm测臂;25 mm, 适用于175 mm测臂
测量系统 (X方向)高精度光栅测量系统   (出厂经激光干涉仪校准)
测量系统 (Z方向)电感传感器*, 精度高, 高线性度
测针分辨率( Z方向)0.38 μm,适用于350mm测臂;0.19 μm, 适用于175mm测臂测
测点距离 (X方向)1.0 μm 至 8.0 μm  
测量系统分辨率( Z方向)0.04 μm    
行程偏差< 1 μm  (在120 mm全行程内)
测力 (Z方向)1 mN 至 120 mN, 向下和向上  (可在 MarSurf XC 20 设定)
行程升角

在光滑表面, 取决于表面倾斜程度

向下降低时不超过 88°, 向上上升时不超过77°

测量速度 (X方向)0.2 mm/s 至 4 mm/s
调整间距0.1 mm/s(0.0039 in/s)
接触速度(Z方向)0.1mm/s至1mm/s可调
定位速度(X方向)及返回速度0.2mm/s至8mm/s
测臂长度175mm,350mm
测针半径25μm  


买家还在看.jpg

MPO.jpgMPOR.jpg马尔PS1粗糙度仪.jpgPS10.jpgPocket-Surf-IV便携式表面粗糙度仪.jpgJD220粗糙度仪.jpgM300.jpg吉泰粗糙度仪JD350.jpg


为什么选中仪联.jpg



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